C测试仪 3504-40
C测试仪 3504-40
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- 产品参数
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
| 测量参数 | Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ） |
|---|---|
| 测量范围 | C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000 |
| 基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数 |
| 测量频率 | 120Hz, 1kHz |
| 测量信号电平 | 恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz) |
| 输出电阻 | 5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时） |
| 显示 | 发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定） |
| 测量时间 | 典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同 |
| 功能 | BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外) |
| 电源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, 最大110VA |
| 体积及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
| 附件 | 电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1 |
测试冶具或电缆
SMD测试治具9699
用于底部有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：宽1.0~4.0mm，高1.5mm以下
SMD测试治具9677
用于侧面有电极的SMD DC~120MHz，测试样品 尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9263
直接连接型, DC～5 MHz 测试尺寸: 1mm～10.0mm
测试治具9262
DC～8 MHz, 直接连接型
测试治具9261
电缆连接型, DC ～ 5 MHz, 1m长
镊形探头L2001
线长73cm，DC～8MHz，50Ω，前端电极间隔：0.3～6mm(IM9901:JIS尺寸1608～5750)（IM9902：JIS尺寸0603～5750）
4端子测试探头 9140
DC～100kHz, 1m长
打印机
打印机 9442
数码打印
AC适配器9443-02
适用于打印机9442
连接电缆 9444
适用于9442, 线长:1.5 m
记录纸 1196
112mm x 25m, 10卷/盒
PC 通讯器
GP-IB连接线9151-02
2m长
商城价
￥0.00
